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SIDC14D60C6
- Modello di prodotti:
- SIDC14D60C6
- fabbricante:
- International Rectifier (Infineon Technologies)
- Descrizione:
- DIODE GEN PURP 600V 50A WAFER
- Stato Lead senza piombo / RoHS:
- Contiene piombo / RoHS non conforme
- quantità disponibile:
- 16329 Pieces
- Scheda dati:
- SIDC14D60C6.pdf
introduzione
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Specifiche
| Tensione - diretta (Vf) (max) a If: | 1.9V @ 50A |
|---|---|
| Tensione - inversa (Vr) (max): | 600V |
| Contenitore dispositivo fornitore: | Sawn on foil |
| Velocità: | Standard Recovery >500ns, > 200mA (Io) |
| Serie: | - |
| imballaggio: | Bulk |
| Contenitore / involucro: | Die |
| Altri nomi: | SP000015066 |
| Temperatura di funzionamento - Giunzione: | -40°C ~ 175°C |
| Tipo montaggio: | Surface Mount |
| Livello di sensibilità umidità (MSL): | 1 (Unlimited) |
| codice articolo del costruttore: | SIDC14D60C6 |
| Descrizione espansione: | Diode Standard 600V 50A (DC) Surface Mount Sawn on foil |
| Tipo diodo: | Standard |
| Descrizione: | DIODE GEN PURP 600V 50A WAFER |
| Corrente - Dispersione inversa a Vr: | 27µA @ 600V |
| Corrente - raddrizzata media (Io): | 50A (DC) |
| Capacità a Vr, F: | - |
| Email: | [email protected] |
Parti relative per SIDC14D60C6
| Immagine | Modello di prodotti | Produttori | Descrizione | vista |
|---|---|---|---|---|
 |
SIDC14D120H6 | Infineon Technologies | DIODE GEN PURP 1.2KV 25A WAFER | Inchiesta |
|
SIDC14D60E6 | Infineon Technologies | DIODE GEN PURP 600V 30A WAFER | Inchiesta |
|
SIDC14D120E6 | Infineon Technologies | DIODE GEN PURP 1.2KV 15A WAFER | Inchiesta |
|
SIDC14D60C6Y | Infineon Technologies | DIODE GEN PURP 600V 50A WAFER | Inchiesta |
|
SIDC14D60E6Y | Infineon Technologies | DIODE GEN PURP 600V 30A WAFER | Inchiesta |
|
SIDC11D60SIC3 | Infineon Technologies | DIODE SCHOTTKY 600V 4A WAFER | Inchiesta |
|
SIDC14D60F6 | Infineon Technologies | DIODE GEN PURP 600V 45A WAFER | Inchiesta |
|
SIDC16D60SIC3 | Infineon Technologies | DIODE SCHOTTKY 600V 5A WAFER | Inchiesta |
|
SIDC14D120F6 | Infineon Technologies | DIODE GEN PURP 1.2KV 15A WAFER | Inchiesta |
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