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Casa > Centro di prodotti > Power Management IC > IC gestione alimentazione - Controller hot swap > MC34653EFR2
MC34653EFR2
Modello di prodotti:
MC34653EFR2
fabbricante:
NXP Semiconductors / Freescale
Descrizione:
IC CTRLR HOT SWAP NEG V 8-SOIC
Stato Lead senza piombo / RoHS:
Senza piombo / RoHS conforme
quantità disponibile:
12881 Pieces
Scheda dati:
MC34653EFR2.pdf
Inchiesta

introduzione

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Specifiche

Tensione di alimentazione -:-74 V ~ -39 V
Digitare:Hot Swap Controller
Contenitore dispositivo fornitore:8-SOIC
Serie:-
Caratteristiche programmabili:Current Limit, Fault Timeout
imballaggio:Tape & Reel (TR)
Contenitore / involucro:8-SOIC (0.154", 3.90mm Width)
temperatura di esercizio:-40°C ~ 85°C
Numero di canali:1
Tipo montaggio:Surface Mount
Livello di sensibilità umidità (MSL):3 (168 Hours)
codice articolo del costruttore:MC34653EFR2
Interruttori interni (s):Yes
Caratteristiche:Auto Retry, Thermal Limit, UVLO
Pins di caratteristica:DISABLE, ICHG, ILIM, PG, /PG
Descrizione espansione:Hot Swap Controller 1 Channel -48V 8-SOIC
Descrizione:IC CTRLR HOT SWAP NEG V 8-SOIC
Corrente - Alimentazione:900µA
Corrente - uscita (max):1A
applicazioni:-48V
Email:[email protected]

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Parti relative per MC34653EFR2

Immagine Modello di prodotti Produttori Descrizione vista
LTC4228CUFD-1#TRPBF Image LTC4228CUFD-1#TRPBF Linear Technology IC HOT SWAP CTRLR 28QFN Inchiesta
MC34673AEP Image MC34673AEP NXP USA Inc. IC SGL CELL BATTERY CHRGR 8-UDFN Inchiesta
MC34673AEPR2 Image MC34673AEPR2 NXP USA Inc. IC SGL CELL BATTERY CHRGR 8-UDFN Inchiesta
MC34652EF NXP USA Inc. IC CTRLR HOT SWAP NEG V 16-SOIC Inchiesta
MC34671AEP Image MC34671AEP NXP USA Inc. IC SGL CELL BATTERY CHRGR 8-UDFN Inchiesta
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MC34674AEP Image MC34674AEP NXP USA Inc. IC SGL CELL BATTERY CHRGR 8-UDFN Inchiesta
MC34652EFR2 NXP USA Inc. IC CTRLR HOT SWAP NEG V 16-SOIC Inchiesta
MC34671AEPR2 Image MC34671AEPR2 NXP USA Inc. IC SGL CELL BATTERY CHRGR 8-UDFN Inchiesta
MC34653EF NXP USA Inc. IC CTRLR HOT SWAP NEG V 8-SOIC Inchiesta
UC3914N Texas Instruments IC 5V TO 35V PWR MANAGER 18-DIP Inchiesta
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