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HEF4030BP,652
HEF4030BP,652
Modello di prodotti:
HEF4030BP,652
fabbricante:
NXP Semiconductors / Freescale
Descrizione:
IC GATE XOR 4CH 2-INP 14-DIP
Stato Lead senza piombo / RoHS:
Senza piombo / RoHS conforme
quantità disponibile:
16783 Pieces
Scheda dati:
HEF4030BP,652.pdf
Inchiesta

introduzione

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Specifiche

Tensione di alimentazione -:3 V ~ 15 V
Contenitore dispositivo fornitore:14-DIP
Serie:4000B
imballaggio:Tube
Contenitore / involucro:14-DIP (0.300", 7.62mm)
Altri nomi:568-7880-5
933282740652
HEF4030BP,652-ND
HEF4030BP652
HEF4030BPN
HEF4030BPN-ND
temperatura di esercizio:-40°C ~ 85°C
Numero di ingressi:2
Numero di circuiti:4
Tipo montaggio:Through Hole
Livello di sensibilità umidità (MSL):1 (Unlimited)
Max Ritardo di propagazione @ V, Max CL:55ns @ 15V, 50pF
codice articolo del costruttore:HEF4030BP,652
Tipo Logic:XOR (Exclusive OR)
Livello logico - Basso:1.5 V ~ 4 V
Livello logico - Alto:3.5 V ~ 11 V
Caratteristiche:-
Descrizione espansione:XOR (Exclusive OR) IC 4 Channel 14-DIP
Descrizione:IC GATE XOR 4CH 2-INP 14-DIP
Corrente - Di riposo (max):4µA
Corrente - uscita alta, bassa:3mA, 3mA
Email:[email protected]

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Parti relative per HEF4030BP,652

Immagine Modello di prodotti Produttori Descrizione vista
HEF40374BP,652 Image HEF40374BP,652 NXP USA Inc. IC D-TYPE POS TRG SNGL 20DIP Inchiesta
HEF4044BT,653 NXP USA Inc. IC R/S LATCH 3-STATE QUAD 16SOIC Inchiesta
HEF4024BT,653 Image HEF4024BT,653 NXP USA Inc. IC 7STAGE BINARY COUNTER 14SOIC Inchiesta
HEF4043BP,652 NXP USA Inc. IC R/S LATCH 3-STATE QUAD 16DIP Inchiesta
HEF40193BT,653 NXP USA Inc. IC COUNTER BINARY UP/DOWN 16SOIC Inchiesta
HEF4011UBT,652 Image HEF4011UBT,652 NXP USA Inc. IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SO Inchiesta
HEF40174BT,652 NXP USA Inc. IC D-TYPE POS TRG SNGL 16SOIC Inchiesta
HEF4093BP,652 Image HEF4093BP,652 NXP USA Inc. IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-DIP Inchiesta
HEF40374BT,653 NXP USA Inc. IC D-TYPE POS TRG SNGL 20SOIC Inchiesta
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HEF40374BT,652 NXP USA Inc. IC D-TYPE POS TRG SNGL 20SOIC Inchiesta
HEF4021BP,652 NXP USA Inc. IC REGISTER STATIC 8BIT 16-DIP Inchiesta
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