Acquistare SN74ABT18245ADL con BYCHPS
Acquista con garanzia
SN74ABT18245ADL
- Modello di prodotti:
- SN74ABT18245ADL
- fabbricante:
- Descrizione:
- IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
- Stato Lead senza piombo / RoHS:
- Senza piombo / RoHS conforme
- quantità disponibile:
- 17532 Pieces
- Scheda dati:
- SN74ABT18245ADL.pdf
introduzione
BYCHIPS è il distributore di calze per SN74ABT18245ADL, abbiamo le scorte per la spedizione immediata e anche disponibili per la fornitura di molto tempo. Vi preghiamo di inviarci il vostro piano di acquisto per SN74ABT18245ADL via email, ti daremo il miglior prezzo secondo il tuo piano.
Specifiche
| Tensione di alimentazione: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Contenitore dispositivo fornitore: | 56-SSOP |
| Serie: | 74ABT |
| imballaggio: | Tube |
| Contenitore / involucro: | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Altri nomi: | 296-3938-5 SN74ABT18245ADLG4 SN74ABT18245ADLG4-ND |
| temperatura di esercizio: | -40°C ~ 85°C |
| Numero di bit: | 18 |
| Tipo montaggio: | Surface Mount |
| Livello di sensibilità umidità (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Produttore tempi di consegna standard: | 6 Weeks |
| codice articolo del costruttore: | SN74ABT18245ADL |
| Tipo Logic: | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| Descrizione espansione: | Scan Test Device with Bus Transceivers IC 56-SSOP |
| Descrizione: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP |
| Email: | [email protected] |
Parti relative per SN74ABT18245ADL
| Immagine | Modello di prodotti | Produttori | Descrizione | vista |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | Inchiesta |
|
SN74ABT18502PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | Inchiesta |
|
SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Inchiesta |
|
SN74ABT18504PMG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Inchiesta |
|
SN74ABT18640DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Inchiesta |
|
SN74ABT18640DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | Inchiesta |
|
SN74ABT18502PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74ABT18652PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74ABT18504PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Inchiesta |
|
SN74ABT18646PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Inchiesta |
|
SN74ABT18245ADLR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | Inchiesta |
|
SN74ABT18504PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74ABT18640DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | Inchiesta |
Latest Notizie
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog