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DS2172T
- Modello di prodotti:
- DS2172T
- fabbricante:
- Maxim Integrated
- Descrizione:
- IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP
- Stato Lead senza piombo / RoHS:
- Contiene piombo / RoHS non conforme
- quantità disponibile:
- 14360 Pieces
- Scheda dati:
- 1.DS2172T.pdf2.DS2172T.pdf
introduzione
BYCHIPS è il distributore di calze per DS2172T, abbiamo le scorte per la spedizione immediata e anche disponibili per la fornitura di molto tempo. Vi preghiamo di inviarci il vostro piano di acquisto per DS2172T via email, ti daremo il miglior prezzo secondo il tuo piano.
Specifiche
| Tensione di alimentazione -: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Contenitore dispositivo fornitore: | 32-TQFP (7x7) |
| Serie: | - |
| Potenza (W): | - |
| imballaggio: | Tray |
| Contenitore / involucro: | 32-TQFP |
| temperatura di esercizio: | 0°C ~ 70°C |
| Numero di circuiti: | 1 |
| Tipo montaggio: | Surface Mount |
| Livello di sensibilità umidità (MSL): | 3 (168 Hours) |
| codice articolo del costruttore: | DS2172T |
| Interfaccia: | T1 |
| include: | Error Counter, Pattern Generator and Detector |
| Funzione: | Bit Error Rate Tester (BERT) |
| Descrizione espansione: | Telecom IC Bit Error Rate Tester (BERT) 32-TQFP (7x7) |
| Descrizione: | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP |
| Corrente - Alimentazione: | 10mA |
| Email: | [email protected] |
Parti relative per DS2172T
| Immagine | Modello di prodotti | Produttori | Descrizione | vista |
|---|---|---|---|---|
 |
DS2175 | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | Inchiesta |
 |
DS2172T+T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
|
DS2172TN+T&R | Maxim Integrated | IC BIT ERROR RATE TESTER 32TQFP | Inchiesta |
|
DS2172T+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
|
DS2175+ | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | Inchiesta |
 |
DS2175SN | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | Inchiesta |
|
DS2172TN | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
|
DS2172T/T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
|
DS2175SN+T&R | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | Inchiesta |
|
DS2175N | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | Inchiesta |
|
DS2172TN+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
 |
DS2174Q+ | Maxim Integrated | IC BERT ENHANCED 44-PLCC | Inchiesta |
|
DS2175SN/T&R | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE MEMORY 16SOIC | Inchiesta |
 |
DS2176+ | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 24-DIP | Inchiesta |
 |
DS2176Q/T&R | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 28-PLCC | Inchiesta |
|
DS2174QN+T&R | Maxim Integrated | IC BERT ENHANCED 44-PLCC | Inchiesta |
|
DS2176QN | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 IND 28-PLCC | Inchiesta |
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