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DS2172T+T&R
- Modello di prodotti:
- DS2172T+T&R
- fabbricante:
- Maxim Integrated
- Descrizione:
- IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP
- Stato Lead senza piombo / RoHS:
- Senza piombo / RoHS conforme
- quantità disponibile:
- 13194 Pieces
- Scheda dati:
- DS2172T+T&R.pdf
introduzione
BYCHIPS è il distributore di calze per DS2172T+T&R, abbiamo le scorte per la spedizione immediata e anche disponibili per la fornitura di molto tempo. Vi preghiamo di inviarci il vostro piano di acquisto per DS2172T+T&R via email, ti daremo il miglior prezzo secondo il tuo piano.
Specifiche
| Tensione di alimentazione -: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Contenitore dispositivo fornitore: | 32-TQFP (7x7) |
| Serie: | - |
| Potenza (W): | - |
| imballaggio: | Tape & Reel (TR) |
| Contenitore / involucro: | 32-TQFP |
| temperatura di esercizio: | 0°C ~ 70°C |
| Numero di circuiti: | 1 |
| Tipo montaggio: | Surface Mount |
| Livello di sensibilità umidità (MSL): | 3 (168 Hours) |
| codice articolo del costruttore: | DS2172T+T&R |
| Interfaccia: | T1 |
| include: | Error Counter, Pattern Generator and Detector |
| Funzione: | Bit Error Rate Tester (BERT) |
| Descrizione espansione: | Telecom IC Bit Error Rate Tester (BERT) 32-TQFP (7x7) |
| Descrizione: | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP |
| Corrente - Alimentazione: | 10mA |
| Email: | [email protected] |
Parti relative per DS2172T+T&R
| Immagine | Modello di prodotti | Produttori | Descrizione | vista |
|---|---|---|---|---|
 |
DS2176QN | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 IND 28-PLCC | Inchiesta |
 |
DS2175SN | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | Inchiesta |
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DS2172T+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
 |
DS2175 | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | Inchiesta |
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DS2175+ | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | Inchiesta |
|
DS2172TN+T&R | Maxim Integrated | IC BIT ERROR RATE TESTER 32TQFP | Inchiesta |
|
DS2172TN+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
|
DS2172T/T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
|
DS2176Q/T&R | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 28-PLCC | Inchiesta |
|
DS2172T | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
|
DS2172TN | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Inchiesta |
 |
DS2174Q+ | Maxim Integrated | IC BERT ENHANCED 44-PLCC | Inchiesta |
 |
DS2176+ | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 24-DIP | Inchiesta |
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